功率半导体电性能测试主要包罗器件的新闻态测试，太阳GG推出了主要针对IGBT、SiC MOS？榈牡缧阅懿馐韵低。

动态测试系统产物优势

• 测试效率高，通例半桥？椴馐訳PH可达500Pcs；
• 杂感低，系统杂感小于20nH；
• 设置无邪，可凭证客户被测件或详细测试要求，无邪设置丈量探头；
• 支持QG测试、支持NTC测试；
• 可凭证客户需求，选配ICES&VTH测试功效。

静态测试系统产物优势

• 测试效率高，通例半桥模块测试UPH可达1500Pcs；
• 魔盒设计，电流源、通道切换都是单板组建，可快捷替换维护；
• 通用性高，支持IGBT、SiC MOS测试，支持SiC测蕐uan曜，支持差异拓扑测试；
• 继电器寿命高，且具备寿命计数功效；
• 激励源回读，所有测试条件给到的电压、电流激励，都可以回读；
• 实验室模式下，各测试项的测试波形在上位机界面展示；

MX300A系列自动化测试产线由上料机、绝缘测试、预热、高温静态测试、高温动态测试、冷却及NG下料、常温动态测试、常温静态测试、拱度、全尺寸、NG下料、下料机等？樽槌，接纳公司自主研发的测试系统与自动化相团结，为IGBT自动化产线测试提供一个精准、稳固的测试平台，用于产线全方面磨练IGBT的参数特征。

产物优势

• ？榛杓，测试工艺流程无邪搭配；
• 兼容工业、车规以及SiC？榈淖远馐裕
• 自动化测试产能高；
• 自动化系统自主研发，襶uanＵ掀溆氩馐韵降低己玫钠ヅ湫裕
• 自动化外观设计气焰气焰和搭配的测试系统一致，精练雅观；

功率半导体可靠性测试主要用于评估器件的寿命，模拟产物在长时间使用或特定情形条件下性能的转变。特殊针对器件的工艺可靠性以及芯片性能的可靠性举行实验。

功率器件热特征测试产物优势

• 测试电流品级到3600A，兼容SiC MOS？椴馐裕
• 通道数提升至18个，可支持更多器件同时测试；
• 具备瞬态、稳态热阻的测试功效；
• 支持分钟级和秒级功率循环测试；
• 三个实验通道，通道流量自力控制。

高温电压偏置测试产物优势

• 兼容Si/SiC/GaN 质料的IGBT、MOSFET、DIODE等功率器件测试，器件形式兼容单管、模块等差异封装。
• 测试精度高，电流的量程凭证现实所测的泄电流自动选择分档，襶uanＶげ馐跃龋
• 实时监控测试温度、数据，试验每通道电压/工位泄电流检测/试验箱温度检测并描绘出完整转变曲线；
• 自力高压击穿掩护，每工位串联掩护器件，防止器件失效造成的测试板损坏；

芯片测试系统是指将测试系统、handler以及探针卡等集成，对晶圆或芯片机型性能测试的系统。包罗PC、Burn In以及KGD等。

芯片测试的目的是在封装前筛选出NG或ci品，为后续的器件封装做准备，以提升器件的一致性以及良率。

• 测试类型全笼罩，可凭证需求设置测试功效，实现芯片的外观检测、高常温新闻态、RG/CG、雪崩、短路等；
• 高压大电流测试规模，笼罩3000V/1000A以内的测试规格；
• 定位精度高，通过伺服传动、视觉定位等方式，有用提升晶圆或芯片的定位精度；
• 高产能，更具测试功效，配备多site测试功效；
• 可举行高温测试，同时举行惰性气体掩护，防止打火和氧化